2020-10-30
原位機(jī)械性能測試
使用原位的壓縮，拉伸和溫度樣品平臺，可以在掃描室內(nèi)部實(shí)現(xiàn)機(jī)械性能實(shí)驗(yàn)。通過這種方式，樣品的結(jié)構(gòu)與力學(xué)性能之間的相關(guān)性就可以得到更詳細(xì)的研究。
Bruker的XRM可提供高達(dá)4.4kN的機(jī)械測試平臺和原位溫度控制樣品臺，溫度可從室溫下40℃到攝氏85度。
使用MTS3加壓平臺原位加載Noyant石灰?guī)r樣品
SKYSCAN 1275 - 10微米體素尺寸
孔徑分布(微米) 顆粒尺寸分布(微米)
Bentheim砂巖的孔徑（左）和顆粒（右）尺寸分布
SKYSCAN 1275 - 5微米體素尺寸
定量分析地質(zhì)材料的結(jié)構(gòu)特性
XRM可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)參數(shù)的3D定量分析，比如孔隙度，粒度，功能定位以及局部厚度。所有這些參數(shù)都可以通過Bruker XRM自主研發(fā)的軟件工具進(jìn)行計(jì)算和直觀的查看。
Bentheim砂巖經(jīng)歷4個(gè)潤濕/蒸發(fā)的循環(huán)過程，在內(nèi)部和外部鹽殼層形成過程的可視化
SKYSCAN1275 - 5微米體素尺寸
動(dòng)態(tài)過程的成像和分析
XRM可以用于跟蹤動(dòng)態(tài)過程。緩慢的變化過程可以通過掃描不同穩(wěn)定狀態(tài)下的樣品來監(jiān)控（延時(shí)CT），快速的變化過程可以通過快速掃描即將掃描獲取時(shí)間降至65秒來研究（實(shí)時(shí)CT）。
如有必要，不同時(shí)間所獲取的同一樣品的數(shù)據(jù)集可以通過3D圖像分析軟件DataViewer得到精準(zhǔn)的對齊。
Vosges砂巖樣品上高分辨率切片
0.3微米體素尺寸
使用 SKYSCAN2211 20微米體素尺寸掃描大的石灰?guī)r巖心
覆蓋多種長度范圍的成像和分析
使用Bruker XRM，對于小尺寸樣品的真實(shí)空間分辨率可以達(dá)到500nm，從而使巖石和沉積物樣本的孔隙度特征得以在小的細(xì)節(jié)上得到表征。
使用同樣的設(shè)備，直徑高達(dá)20cm的大樣品可以在較低分辨率下分析。而長尺寸樣品的掃描可以根據(jù)旋轉(zhuǎn)軌跡自動(dòng)拼接多個(gè)掃描完成，或者通過螺旋掃描來實(shí)現(xiàn)。
Micro-CT - micro-XRF 40mm直徑地質(zhì)巖心的混合物組成分布
Micro-CT: SKYSCAN 2211 - 25微米體素尺寸，micro-XRF: Burker M4 Tornado
無比的兼容性
XRM的數(shù)據(jù)可以和Bruker其他成像技術(shù)比如微區(qū)XRF或者掃描電鏡-能譜儀相結(jié)合。此外，其他方法，比如壓汞孔隙度分析法和X-射線衍射來實(shí)現(xiàn)完整的結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分表征。
使用Bruker XRM的Dataviewer軟件，通過不同方式得到的圖像可以在合成3D。得到的結(jié)果數(shù)據(jù)可以通過CTVox的體積渲染軟件包實(shí)時(shí)直接地查看。
使用不同模式獲得的圖像可以在3D中對齊。使用體繪制包CTVOX，可以同時(shí)顯示結(jié)果數(shù)據(jù)
SKYSCAN 1272 - 高分辨臺式XRM
• 11或16 MP 大尺寸CCD探測器
• 小像素尺寸低至0.35微米
• 每張切片圖片高達(dá)200MP像素
• InstaRecon-世界上快的重構(gòu)算法
• 16位樣品切換進(jìn)樣位置
SKYSCAN 1275-快速自動(dòng)臺式micro-CT
• 低至4微米的像素尺寸精度
• 一鍵式按鈕控制的自動(dòng)化操作
• 樣品尺寸可達(dá)96mm(直徑) X 200mm(高度)
• 高度精確的螺旋重構(gòu)掃描
• 16位樣品切換進(jìn)樣位置
SKYSCAN 原位測試平臺
• 壓力高可達(dá)4400N
• 大拉伸力可達(dá)440N
• 可降溫至室溫下40℃
• 可加熱高至85℃
備注：文章和圖片由Bruker提供
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